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Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial / Armando Albertazzi; André Roberto de Sousa. -

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoIdioma: Português Detalhes da publicação: Barueri, SP : Manole, 2018.Edição: 2. ed. rev. ; ampliDescrição: xvi, 462 p. : il. ; 23 cmISBN:
  • 978852042116
Assunto(s): Classificação Decimal de Dewey:
  • 620.0028 A333f
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Inclui índice.

Bibliografia: p. [457]-458.

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