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Fundamentos de metrologia científica e industrial / Armando Albertazzi; André R. de Sousa.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoDetalhes da publicação: Barueri/SP: Manole, 2008.Descrição: 408 p. : ilISBN:
  • 9788520421161
Assunto(s): Classificação Decimal de Dewey:
  • 620.0028 A333f
Resumo: Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da Metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em Engenharia, Ciências Exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas.
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Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da Metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em Engenharia, Ciências Exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas.

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